【AI速读】突破功能验证性能瓶颈:UVM++与仿真器随机化测试平台的融合实践

发布于:2025-03-09 ⋅ 阅读:(17) ⋅ 点赞:(0)

引言

在复杂的芯片设计流程中,功能验证始终是确保设计正确性的关键环节。然而,随着IP复杂度与系统规模的指数级增长,传统的UVM(Universal Verification Methodology)方法逐渐暴露出性能瓶颈——冗长的测试开发周期、仿真效率低下、固件与硬件协同验证的滞后性,以及难以复用的验证内容。近期,一种名为UVM++的创新方法被提出,结合仿真器随机化测试平台(In-Emulator Randomized Testbenches),为功能验证带来了全新的可能性。本文将从技术细节到实际应用,解析这一方案的核心理念与落地价值。


UVM++:传统UVM的进化版

UVM++并非完全颠覆UVM,而是通过引入PSS(Portable Stimulus Standard)工具的能力,为UVM环境提供更高层次的抽象与自动化支持。其核心特点包括:

  1. 无缝集成:通过类SystemVerilog的API接口,UVM++允许验证工程师直接调用PSS功能,无需学习新语言。
  2. 模型驱动验证:将高价值的验证逻辑封装为可移植的图模型(Graph-Based Models),通过自动化生成自检测试用例,减少手动编写序列的负担。
  3. 性能优化:通过“预生成测试”与“混合反应式生成”策略,在保证灵活性的同时最大化仿真器性能。

例如,在加密IP(如AES模块)的验证中,UVM++可通过定义动作模型(如as_encrypt)自动生成覆盖寄存器配置、数据流传输和结果检查的测试场景,显著缩短开发周期。


四大核心场景:UVM++如何破局

1. 高效覆盖率闭合

传统UVM的覆盖率收敛依赖海量手动测试,而UVM++通过3D覆盖模型(顺序、组合、并发)与静态覆盖分析,提前识别未覆盖场景。例如,在显示控制器与SD卡控制器的交互验证中,UVM++可自动生成跨模块的时序组合测试,覆盖传统方法难以触达的边界条件。

2. 加速IP与子系统仿真

UVM++的“合成化验证操作系统(VerificationOS)”是关键。它通过以下方式提升效率:

  • 绕过仿真编译:测试内容在模型阶段完成随机化与调度,直接加载至仿真器内存,避免传统流程中的编译延迟。
  • 最小化调试数据:通过预生成的执行计划,仅收集必要信号,减少数据吞吐对性能的影响。

实际测试表明,一个包含DMA、AES和UART的多IP子系统验证,采用UVM++后仿真速度提升可达3倍以上。

3. 固件与硬件的早期协同

在芯片设计早期,固件(如摄像头驱动)通常因缺乏真实硬件而无法验证。UVM++通过轻量化验证OS层模拟硬件服务(如寄存器读写、内存分配、中断处理),使固件可直接运行在仿真环境中。例如,一段操作AES模块的固件代码可通过宏定义(如REG_WRITE)直接映射到UVM寄存器抽象层(RAL),实现“硬件未到,固件先验”。

4. SoC系统一致性的验证复用

UVM++支持从IP级到SoC级的验证内容复用。通过预置的系统一致性VIP库(如缓存一致性、电源管理场景),用户可快速构建复杂系统测试。例如,针对多核SoC的缓存一致性验证,UVM++可自动生成跨处理器的读写冲突场景,而无需从零开发测试用例。


落地挑战与最佳实践

尽管UVM++优势显著,但其落地需注意:

  • 团队技能转型:验证工程师需熟悉PSS建模思想,而非仅依赖UVM序列编写。
  • 工具链适配:需整合支持UVM++的EDA工具(如Breker Trekker),并优化与仿真器(如Veloce、Palladium)的交互流程。
  • 混合模式策略:对无法预测DUT响应的场景,需保留部分反应式生成逻辑,平衡性能与灵活性。

某头部芯片公司的实践表明,通过分阶段迁移(从IP到子系统,再到SoC)和自动化模型检查工具,UVM++的采用周期可缩短至6个月,且验证效率提升40%以上。


未来展望

UVM++的核心理念——模型驱动、内容复用、性能优先——正在重塑功能验证的方法论。随着AI驱动的覆盖分析与更智能的测试合成技术加入,未来验证工程师的角色可能从“用例编写者”转向“场景定义者”,进一步释放创新潜力。


结语
在芯片设计日益复杂的今天,UVM++与仿真器随机化测试平台的结合,不仅是一次技术升级,更是一种思维革新。它通过抽象与自动化,将验证团队从“约束地狱”中解放,转而聚焦于更高层次的设计风险识别。对于追求“一次流片成功”的团队而言,这或许正是破局的关键一步。

参考文章:

In-emulator” UVM++ randomized testbenches for high performance functional verification


「数字芯片设计【不定期更新文件】」链接:https://pan.quark.cn/s/27331927a18e