【芯片设计-信号完整性 SI 学习 1.1 -- 眼图、抖动、反射、串扰】

发布于:2025-09-11 ⋅ 阅读:(15) ⋅ 点赞:(0)


本篇文章 会对 眼图、抖动、反射、串扰 四个在 信号完整性(SI, Signal Integrity)测试中最核心的概念进行介绍。

1. 眼图(Eye Diagram)

定义

  • 眼图是把高速信号在一个 UI(Unit Interval,比特周期)上叠加显示的结果,看起来像 “眼睛” 形状。

    在这里插入图片描述由于眼图是用一张图形就完整地表征了串行信号的比特位信息,所以成为了衡量信号质量的最重要工具,眼图测量有时侯就叫“信号质量测试(Signal Quality Test,SQ Test)”。 此外 ,眼图测量的结果是合格还是不合格,其判断依据通常是相对于“模板(Mask) ”而言的。模板规定了串行信号“1”电平的容限,“0”电平的容限,上升时间、下降时间的容限。

如图所示, 示波器测量的一般的信号是一些位或某一段时间的波形, 更更多的反 映的是细节信息。 而眼图则反映的是链路上传输的所有数字信号的整体特征
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作用

  • 提供一个直观评估信号是否可正确采样的“窗口”:
    • 竖直开口高度 → 电压裕量(抗噪声能力)
    • 水平开口宽度 → 时间裕量(时序抖动余量)
    • 闭合程度 → 信号失真严重

举例
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  • DDR4、PCIe、USB、SerDes bringup 时会用示波器采集眼图,判断链路是否满足标准规范。
  • 如果眼图闭合 → 说明噪声、抖动、串扰过大,数据错误概率上升。

2. 抖动(Jitter)

定义

  • 抖动是信号时序上的不稳定,指理想采样点与实际采样点的偏差 。抖动(Jitter) 反映的是数字信号偏离其理想位置的时间偏差,是一个时域上的概念。
  • 在这里插入图片描述

高频数字信号的bit周期都非常短,—般在几百ps甚至几十ps, 很小的抖动都会造成信号采样位置电平的变化,所以高频数字信号对于抖动都有严格的要求。

抖动是对信号时域变化的测量结果,它从本质上描述了信号周期距离其理想值偏离了多少。包括确定性抖动和随机抖动。实际信号的很复杂,可能既有随机抖动成分(RJ), 也有不同频率的确定性抖动成分(DJ)。

  • 随机抖动 (RJ):由热噪声、相位噪声引起,随机抖动是指由较难预测的因素导致的时序变化。随机抖动最基本的一个特性就是随机性,因此我们可以用高斯统计分布来描述其特性。

  • 确定性抖动 (DJ):确定性抖动的来源主要有4种:

    • 1 相邻信号走线之间的串扰
    • 2 敏感信号通路上的EMI辐射
    • 3 多层基底中电源层的噪声
    • 4 多个门电路同时转换为同一种逻辑状态

作用

  • 抖动会直接导致眼图的 水平闭合,减小时序裕量。

  • 高速串行接口 (PCIe, SATA, SerDes) 中,抖动测试是关键指标之一。

举例

  • PCIe Gen4 以上标准会要求测试 TJ@BER=10⁻¹² (总抖动在误码率 1E-12 时的统计值)。
  • DDR Margining 测试时,会量化数据与时钟之间的 Setup/Hold 裕量,等价于抖动测试。

3. 反射(Reflection)

传输时,每一时刻都会遇到一个传输线的瞬时阻抗,当该瞬时阻抗发生变化时,一部分信号将会反射,另一部分将会继续向前传输。或者说反射就是回波,信号功率的一部分传输到线上并达到负载端,但是有一部分反射会回源端。

定义

  • 当传输线阻抗不连续(过孔、连接器、飞线、端接不匹配)时,信号会发生部分能量反射。
  • 反射系数 Γ = (Z_load - Z0) / (Z_load + Z0),Z0 为传输线特性阻抗。

阻抗:将传输线始端的输入阻抗称为阻抗。
瞬时阻抗:将信号在互连传输过程中随时遇到的阻抗称为瞬时阻抗。
特征阻抗:如果传输线有恒定不变的瞬时阻抗,就称为传输线的特征阻抗。
一般都是用特征阻抗来描述传输线阻抗(单端50ohm、差分100ohm),其是影响传输线在电路中信号完整性的一个主要因素。

3.1 信号反射机理

信号沿传输线向前传播时,每时每刻都会遇到一个瞬时阻抗,这个阻抗可能是传输线本身的,有可能是中途的过孔、线宽的变化或者末端的其他元件等。对于信号来说,它不会区分到底是什么,信号所能感受到的就是阻抗的变化,如果阻抗不变就会继续向前传播,阻抗变化就会发生反射。。

3.2 消除反射的措施

消除反射可以通过更改传输线的不连续结构、端接匹配、走线拓扑来进行调整。

  • 更改走线不连续结构:减少走线的现款的突变、减少过孔的使用或者减少STUB等措施。
  • 端接匹配包括:
    • 串联端接:在源端串一个电阻,电阻阻值加上驱动端的输出阻抗应该等于传输线的特征阻抗,以此来消除负载端的反射。在这种情况下会发生一次反射,每条线上只用加上一个电阻,消耗功率小,但是会增加信号的传输时间,减缓信号的上升和下降时间。
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    • 并联端接:在负载端并联电阻,电阻的阻值需要和传输线的特征阻抗相等,以此来消除终端的一次反射。并联电阻可以上拉到电源或下拉到地,适用于多负载的情况。在这里插入图片描述

举例

  • DDR 总线如果终端电阻没有按标准 50Ω 匹配,写入波形会出现振铃 → 影响 Setup/Hold。

  • PCIe 链路中,过孔未优化会导致反射,引起 S参数测试失败。

4 . 串扰(Crosstalk)

定义
串扰(Crosstalk)是指临近信号线之间相互耦合,产生预期以外的噪声的现象,即使它们并没有直接的电气连接。例如下图中,A、B为临近的信号线,即使B是空闲状态的低电位,当A的电压变化时,B上的电压也会受到影响,出现一定的变化。

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电气电子系统中,这种由于电磁感应的基本原理,产生的线间耦合现象无处不在。我们熟悉的变压器,就是利用这种电磁耦合现象制成的设备;但在信号系统中,我们通常希望这种耦合尽可能的减少,因为这会使信号线上产生额外的噪声,对系统的信号完整性带来挑战

4.1 叠加原则

基于以上多对多的基本事实,我们在评估某一条信号线接受的串扰时,采取的基本方法是,单独研究所有干扰源对他的影响,再将所有干扰源的影响叠加,这个基本方法遵从的就是叠加原则。

4.2 近端串扰和远端串扰

下图展示的有2条相邻信号线的系统,在干扰线的源端输入一个阶跃信号,以受害线的源端(A)和终端(B)作为测试点,可以分别测出这2点的噪声波形。
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A点和干扰信号输入都在源端,观察到的噪声即为近端串扰(Next);B点和干扰信号输入不在同一端,观察到的噪声即为远端串扰(Fext)。这两种噪声的表现是不一样的,下面分别做简单介绍。

举例

  • DDR3/DDR4 数据总线如果布线密集 → 相邻 DQ 串扰 → 导致读写眼图闭合。

  • SerDes 通道中,FEXT 可能在高频下造成误码率(BER)显著上升。

5. 四者之间的联系

  • 眼图 是整体结果,反映了 抖动、反射、串扰 等失真的综合效果。

  • 抖动 → 眼图水平收窄

  • 反射 → 信号畸变、过冲/下冲 → 眼图竖直收窄

  • 串扰 → 叠加噪声 & 时序偏移 → 眼图竖直+水平同时收窄

可以理解为
抖动、反射、串扰 = 根因
眼图 = 体检报告

6. 总结对比表

项目 定义 在眼图中的表现 测试方法 举例
眼图 综合波形叠加,直观表征信号质量 开口高度=电压裕量;开口宽度=时间裕量 示波器采集眼图 PCIe、DDR bringup 验证
抖动 采样时间偏移 水平闭合 TIE/Jitter 分析,BER 仿真 PCIe Gen4 TJ@BER 测试
反射 阻抗不连续导致回波 噪声叠加,竖直闭合 TDR/TDT,示波器波形 DDR 终端不匹配导致振铃
串扰 相邻走线耦合干扰 噪声/时序漂移,眼图收窄 Crosstalk 仿真,示波器/误码仪 DDR DQ 串扰导致 BER 增加

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https://jz.docin.com/p-257887208.html
https://blog.csdn.net/huxyc/article/details/135706281
https://zhuanlan.zhihu.com/p/713786133


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