TI-BQ34Z100 STM32CubeIDE STM32L151 调试过程，含详细步骤文档、代码工程、测试记录、BQ34Z100手册等相关资料

1 BQ32Z100电池调试记录

实际项目中使用了BQ32Z100芯片，进行电池电量、电压、电流等参数，BQ34Z100-G1 器件提供多个接口选项， 其中包括一个I2C 从接口、一个 HDQ 从接口、 一个或四个直接 LED接口以及一个警报输出引脚。此外， BQ34Z100-G1 还支持外部端口扩展器， 连接四个以上的 LED。

 MCU型号为STM32L151CBTx，采用IO模拟时序匹对IIC接口时序，对BQ32Z100芯片进行读取，该案例时序可以类比TI公司其他I2C接口芯片的读写操作。接下来，就对调试过程进行说明。

附上本文使用工程文件，下载链接，含代码工程、datasheet、说明文档等

https://download.csdn.net/download/li171049/90562312

2 原理图设计

连接到MCU IIC2管脚，PB10 PB11，这里可以供软件选择，是否使用MCU片上IIC2，或者使用模拟IO进行模拟时序操作。

IIC管脚需要做上拉处理，然后通过接插件连接到电池，需要说明的是BQ32Z100在电池内部。

使用串口1作为调试串口。

好了，原理图就是这样比较简单。

3 调试过程 

 使用STM32CubeIDE Version: 1.17.0搭建工程，

软件调试过程比较心累，这里需要记录一下。

第1天

刚开始使用模拟IO的iic时序，做好代码设计，进行调试，结果是从机（BQ34Z100）一直没有从机ACK信号。怀疑地址错误，各种替换地址，结果还是一样。

第2天

后续偶然有思路怀疑硬件工程师搞错了接线

赶紧调换SCL/SDA接线，试试

发现数据对上了。

4 模拟时序

采用iic模拟时序的方式，关键代码如下：

/**
 * @brief BQ34Z100 I2C起始信号
 * @param NONE
 * @return NONE
 */
void bq34z100_i2c_start(void)
{

	SDA_1();
	I2CDELAY();
	SCL_1();
	I2CDELAY();
	SDA_0();
	I2CDELAY();
	SCL_0();
	I2CDELAY();
}

/**
 * @brief BQ34Z100 I2C停止信号
 * @param NONE
 * @return NONE
 */
void bq34z100_i2c_stop(void)
{

	SDA_0();
	I2CDELAY();
	SCL_1();
	I2CDELAY();
	SDA_1();
	I2CDELAY();
}

/**
 * @brief BQ34Z100 I2C发送字节
 * @param u8 data 发送数据
 * @return ACK
 */
u8 bq34z100_i2c_send_byte(u8 data)
{
	u8 bits, temp, ack;
	u16 wait_cnt;
	SCL_0();
	temp = data;
	bits = 0x08;
	while (bits != 0x00) {
		if (temp & 0x80)
			SDA_1();
		else
			SDA_0();
		I2CDELAY();
		SCL_1();
		wait_cnt = 0;
		while ((BQ34Z100_GPIO_SCL->IDR & BQ34Z100_SCL_pin) == 0) {
			wait_cnt++;
			if (wait_cnt > 200) {
				bq34z100_i2c_stop();
				return (0);
			}
		}
		I2CDELAY();
		temp = (temp << 1);
		SCL_0();
		bits = (bits - 1);
	}
	I2CDELAY();
	SDA_1();
	SCL_1();

	wait_cnt = 0;
	while ((BQ34Z100_GPIO_SCL->IDR & BQ34Z100_SCL_pin) == 0) {
		wait_cnt++;
		if (wait_cnt > 200) {
			bq34z100_i2c_stop();
			return (0);
		}
	}
	I2CDELAY();
	ack = (((BQ34Z100_GPIO_SDA->IDR & BQ34Z100_SDA_pin) == 0) ? 0 : 1);
	SCL_0();
	if (ack)
		return (1);
	else
		return (0);
}

/**
 * @brief BQ34Z100 I2C接收字节
 * @param u8 ack 是否响应ACK
 * @return u8 data 接收数据
 */
u8 bq34z100_i2c_rev_byte(u8 ack)
{
	u8 bits, data = 0;
	SDA_1();
	bits = 0x08;
	while (bits > 0) {
		SCL_1();

		while ((BQ34Z100_GPIO_SCL->IDR & BQ34Z100_SCL_pin) == 0)
			I2CDELAY();

		data = (data << 1);
		if (BQ34Z100_GPIO_SDA->IDR & BQ34Z100_SDA_pin)
			data = (data + 1);
		SCL_0();
		I2CDELAY();
		bits = (bits - 1);
	}

	if (ack)
		SDA_0();
	else
		SDA_1();
	SCL_1();
	I2CDELAY();
	SCL_0();
	SDA_1();

	return (data);
}

5 关键记录

在板子上的调试记录如下，可以看到数据都是正确的了。

其中数据信息如下表所示，其中temperature表示温度，单位位K，charge_state表示电量百分比，比较重要的参数，full_charge_cap表示电池容量，remain_cap表示剩余电池容量，voltage表示电池电压，current表示电池电流，flag表示电池运行标识。

针对电流的描述如下：此只读命令对返回一个有符号整数值，即流经检测电阻器的电流。它每 1 秒更新一次。单位为每位 1 mA，除非选择 X10 模式。在 X10 模式下，单位为 10 mA单位为 1mA。但是，如果设置了 PackConfiguration [SCALED]，则单位已缩放。

通过校准过程。实际的刻度未在设备中设置，SCALED 只是一个指示标志。

针对电池状态，这里有需要读取的数据，针对电池过热，以及充电状态指示，都需要状态显示。

OTC：检测到充电过热情况。设置 True 时

OTD：检测到放电条件下的过热。设置 True 时

BATHI：电池高位，表示电池电压高。有关以下内容，请参阅数据闪存 BATTERY HIGH 参数阈值设置。

BATLOW：电池电量不足位，表示电池电量不足tage 情况。有关以下内容，请参阅数据闪存 BATTERY LOW 参数阈值设置。

CHG_INH：充电抑制：无法开始充电。请参阅数据闪光 [Charge Inhibit Temp Low， Charge Inhibit TempHigh] 。设置 True 时

XCHG：不允许充电

RSVD：保留

FC：检测到充满电。当达到充电终止时设置 FC，并且 FC 设置百分比 = – 1（有关详细信息，请参阅第 7.2.10 节）或 StateOfCharge（） 大于 FC Set% 且 FC Set% 不是 – 1。设置 True 时

CHG：允许（快速）充电。设置 True 时

OCVTAKEN：进入 RELAX 模式时清除，并在 RELAX 模式下执行 OCV 测量时设置为 1。

ISD：检测到内部短路。True 时

SOC1：已达到充电状态阈值1。当设置时为真。

SOCF：已达到充电状态最终阈值。当设置时为真。

DSG：检测到放电。当设置时为真。

 附上本文使用工程文件，下载链接，含代码工程、datasheet、说明文档等

https://download.csdn.net/download/li171049/90562312